Терещенко А.Н.   Штейнман Э.А.   Мазилкин А.А.   Хорошева М.А.   Конончук О.В.  

Структура и электронные свойства дефектов на границе соединенных пластин Si (001)

Докладчик: Терещенко А.Н.

Комментарии

Имя:
Код подтверждения: