Назад
Schilcher, Karl
Johannes Gutenberg University
Германия, Майнц
Доклад
Sebu C.
*
,
Schilcher K.
**
,
Spiesberger H.
**
Conductivity reconstructions using real data from a new planar electrical impedance tomography device
*
Oxford Brookes University (Oxford), Великобритания
**
Johannes Gutenberg University (Майнц), Германия
К списку участников