III Всероссийская научно-техническая конференция «МЕТРОЛОГИЯ, СТАНДАРТИЗАЦИЯ И УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ»

14 - 20 October 2018, Omsk

Rubrics: Conference | Chemistry, IT, Technology

Activity URL: http://conf.ict.nsc.ru/MetrologyQuality2018

E-mail: metrology_konf@omgtu.ru

Description:

 

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ  ОМСКОЙ ОБЛАСТИ

ОМСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ  УНИВЕРСИТЕТ

 

III Всероссийская
научно-техническая  конференция «МЕТРОЛОГИЯ, СТАНДАРТИЗАЦИЯ И УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ»
14–20 октября 2018 г.

Уважаемые коллеги!

Приглашаем Вас принять участие
в III Всероссийской молодежной научно-технической конференции
«МЕТРОЛОГИЯ, СТАНДАРТИЗАЦИЯ И УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ»

На обсуждение выносятся вопросы:

• совершенствование нормативной, технической и иной документации;
• разработка новых высокоточных методов и средств измерения;
• разработка технологических стандартов в различных сферах
  для правильной оценки точности и влияния на качество продукции (процессов).

Секция 1 Метрологическое обеспечение качества
Секция 2 Стандартизация и управление качеством продукции
Секция 3 Информационные технологии в современном производстве

Регистрация участников и размещение докладов через Личный кабинет после регистрации.

Шаблон для оформления статьи

ПРИГЛАШЕНИЕ

 

ИСТОРИЯ КОНФЕРЕНЦИИ

2015 год – I Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология, стандартизация и управление качеством»,
посвященная 90-летию Росстандарта и 170-летию метрологической службы России.
Проходила по 2 секциям. Количество участников – более 150 человек.
Заслушано 70 докладов. Тезисы опубликованы в 1 книге.

2017 год – II Всероссийская научно – техническая конференция «Метрология, стандартизация и управление качеством».
Проходила по 2 секциям. Количество участников – более 70 человек.
Заслушано 30 докладов. Тезисы опубликованы в 1 книге.


 

Organizers:

 

Омиский государственный технический университет

Contact information:

644050, г. Омск, пр. Мира, 11, (1–267)
кафедра «Нефтегазовое дело, стандартизация и метрология»,
телефон/Факс: (3812) 65-23-49

Information source: http://conf.ict.nsc.ru/