26-29 октября 2010 года, Красноярск

Солоненко О.П.   Бледнов В.А.   Иордан В.И.  

Проблемно-ориентированный программный комплекс "СПЛЭТ-ПОКРЫТИЕ" для проектирования и оптимизации технологии плазменного напыления

Докладчик: Бледнов В.А.

В современной технологии плазменного напыления порошковых покрытий в большинстве случаев отсутствует возможность установления оперативного контроля качества покрытий, что затрудняет проектирование и оптимизацию технологии напыления покрытий с заранее заданными свойствами. Создание же системы проектирования <<СПЛЭТ-ПОКРЫТИЕ>> с использованием информационно-вычислительных технологий и ее внедрение как информационной экспертной системы (ИЭС) в составе автоматизированного технологического оборудования позволяет развивать концепцию <<интеллектуальной интегрированной плазменной лаборатории (ИИПЛаб)>>. Созданное к настоящему времени программное обеспечение позволяет моделировать слоистую структуру плазменных покрытий из металлических порошков с оценкой их функциональных характеристик (структура пористости, шероховатость и т.д), предоставляя возможность решать задачу проектирования конкретного покрытия как <<обратную>> задачу. А именно, формулируя набор исходных требований к покрытию, прогнозировать оценки <<физически реализуемых>> параметров <<сплэтов>> - растекшихся и затвердевших металлических капель при их соударении с поверхностью основы в процессе напыления покрытия заданной толщины. Затем <прогнозные> оценки параметров сплэтов используются для определения подпространства ключевых физических параметров (КФП): скорость - температура - размер частицы - температура основы - топология ее поверхности, обеспечивающих получение сплэтов с требуемыми характеристиками.

Программный комплекс <<СПЛЭТ-ПОКРЫТИЕ>> включает две подсистемы. Первая подсистема - <<СПЛЭТ>>, исходя из ограничений, налагаемых на параметры сплэтов, рассчитывает и осуществляет 3D-визуализацию <физически реализуемого> подпространства в фазовом пространстве КФП. Вторая подсистема - <<ПОКРЫТИЕ>>, исходя из набора значений КФП, рассчитанных на основе заданных гистограмм распределений, и физических свойств материалов из справочной <<базы данных>> обеспечивает моделирование и визуализацию слоистой структуры плазменных покрытий и их характеристик.

Программный комплекс, являясь инструментом {ИЭС} {ИИПЛаб}, совместно с самой {ИЭС} дают возможность проведения сквозного вычислительного эксперимента в области плазменного напыления порошковых покрытий.

Файл с полным текстом: solonenko_et_al.doc


К списку докладов