V Всероссийская научно-техническая конференция "Метрология, стандартизация и управление качеством"

г. Омск, 21-22 мая 2020 года

• Новости
• Информационное сообщение
• Приглашение
• Представление материалов
• Предыдущие конференции
• Конкурс
• Программа
• Участники
• Регистрация/Вход

Новости

ВНИМАНИЕ!!! ПРИЁМ СТАТЕЙ ПРОДЛЁН ДО 30 МАЯ 2020 Г.

Интеллектуальная собственность и стандартизация как обязательные условия конкурентоспособности страны